M.Sc. Feißt - Publikationsliste
Konferenzbeiträge
Jahre: 2020 | 2019 | 2018 | 2017zurück zur Übersicht aller Publikationen
2020
- Feißt M, Wilde J
Niedertemperatur-Verbindungstechnik für MEMS-Sensorbauelemente
2020 Elektronische Baugruppen und Leiterplatten EBL 2020, Fellbach, ISBN 978-3-8007-5185-3, VDE VERLAG GMBH, Band: 94, Seiten: 199 - 203
2019
- Feißt M, Li C, Wilde J
Material Model and Simulation of Multilayer-AgSn-Foils for Transient-Liquid-Phase Bonding of Sensor Elements
2019 20th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), Hannover, pp.1-6 - Feißt M, Wilde J
Niedertemperatur-Verbindungstechnik für Sensorsysteme mittels Transient-Liquid-Phase Bonding
2019 Mikrosystemtechnik Kongress 2019, Berlin, ISBN 978-3-8007-5090-0, VDE VERLAG GMBH, Seiten: 312 - 315 - Feißt M, Kustermann J, Schuhmacher A, Wilde J
Process Optimization of Foil-Based Transient Liquid Phase Bonding for Die Attachment
2019 42nd International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE), Wrozlaw
2018
- Feißt M, Möller E, Wilde J
Analysis of Transient Thermal-Mechanical Stresses in Power Devices Using Test Chips and Optical Techniques
2018 10th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Stuttgart, Seiten: 269 - 273 - Feißt M, Schätzle P, Wilde J
Power Chip Interconnections Based on TLP and Sintering of CTE- Matched Conductors
2018 10th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Stuttgart, Seiten: 331 - 336 - Feißt M, Möller E, Wilde J
Testchips für die Stressmessung beim Power-Cycling
2018 DVS Berichte, Elektronische Baugruppen und Leiterplatten EBL 2018, Band: 340, Seiten: 113 - 117 - Feißt M, Yu J, Wilde J
Transient Liquid Phase Bonding Using AgSn-Alloys for Stress Reduced Sensor Mounting
2018 IEEE 68th Electronic Components & Technology Conference (ECTC), San Diego, Ca, Seiten: 293 - 300 - Feißt M, Wilde J
Transient-Liquid-Phase Bonding (TLP) mit AgSn-Schichtsystemen für die Montage von Mikrosystemen
2018 IMAPS Herbstkonferenz 2018, München
2017
- Feißt M, Möller E, Wilde J
Dynamic Stress Measurements of Electronic Devices During Active Operation
2017 IEEE 67th Electronic Components & Technology Conference (ECTC), Orlando, Fl, Seiten: 507 - 512 - Subbiah N, Feißt M, Zeiser R, Möller E, Wilde J
New materials, processes and design methods for the chip mounting of high-temperature sensors
2017 18th International Conference on Sensors and Measurement Technology (SENSOR), Nürnberg
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